离子污染测试仪的静态测试与动态测试的区别
离子污染测试仪是用于检测线路板清洁度/离子污染度的重要设备,其测试方法主要分为静态测试与动态测试两种。两种测试方法在原理、特点等方面存在诸多区别,具体如下:
测试原理
- 静态测试原理:测试槽中先准备好清洁的测试液,将样品浸入后,通过循环泵使测试液连续冲洗样品,样品表面离子溶解到测试液中,随着时间推移,电阻率下降,当电阻率下降到相对恒定的值时,以此计算离子浓度。
- 动态测试原理:同样先在测试槽中放入清洁测试液,样品浸入后,测试液冲洗样品使离子溶解,这些测试液经过传感器和流量计积分计算后,被交换树脂罐重新过滤为洁净状态流回测试槽,不断循环,直至电阻率回到起始洁净状态的阻值,此时的累计值代表离子污染物值。
测试特点
- 静态测试特点:因存在“饱和极限效应”,测试液中萃取出的污染物浓度越来越高时,溶液整体溶解能力会变弱,可能导致部分污染物难以溶解,使测试值小于实际值。但对于电子行业中易造成离子污染的强电解质,静态测试仍有参考价值。每次测试结束后,需整体过滤再生测试液。
- 动态测试特点:对弱电解质的溶解能力更强,更为灵敏,精度更高。测试过程中不断溶解污染物并累计读数,且测试液不断循环过滤,无饱和极限效应。测试完成后,无需再生测试液,可直接进行下一次测试,整体检测效率更高。
精度对比
- 起始值因素:动态测试的电阻值起始点高于静态,可读取范围更大,检测精度和灵敏度更高。
- 测试流程因素:静态测试无法进行深层清洁萃取,而动态测试的测试液经多次循环过滤后,能萃取更顽固的污染物,可理解为静态是浅度表面离子污染检测,动态是深度表面离子污染检测。据实测,动态测试法萃取离子能力比静态高60%。
- 环境影响因素:动态测试法清洗、测试与过滤净化同时进行,能将空气中二氧化碳等环境因素的影响作为噪音消除,测试结果呈微小负偏差;而静态测试法不能排除此类因素影响,测试结果呈正偏差,且样品面积越小,偏差越大。
适用情况
对于要求不高的应用,静态测试法可进行基本的污染度检测,是目前主流测试手段之一。但对于航天、航空、军工等高要求应用或特殊PCB板,采用动态测试作为验证参考更能确保PCB后期使用的稳定性。
SCS Ionograph离子污染测试系统
在业界内,SCS就意味着采用自动化的萃取液电阻(ROSE)测试系统。SCS Ionograph离子污染测试系统是利用动态萃取方法测量将基片浸入到超高纯测试溶液后电阻率的变化情况。电阻率的变化程度指明了污染水平的高低,这种污染通常是由于制造和电路板装配过程中的残留物造成的。
SCS提供一整套的容量和控制措施来满足任何实验室或制造商的需求。适用范围从实验室到生产工厂,众多环境下,满足快速而准确的离子污染测试要求的产品离子污染清洁度测试,SCS Ionograph 产品特点:
l 适用于检测元器件、SMT组装产品、封装载板、PCB裸板各类电子产品的离子污染物含量指标;
l 检测速度快、再生性好、精度高;
l 行业产品,无需进一步寻求第三方检测;
l 在封装与涂覆防护材料前迅速确认离子污染程度;
l 满足现有的行业标准,如ANSI/J-STD-001D和IPC-TM-650,以及MIL-STD-2000A,MIL-P-28809A等各行业标准。
SCS Ionograph SMD V
SCS Ionograph SMD V是放置在地面的柜式仪器,主要适用于尺寸较大的产品,仪器的循环系统在液面以下实现喷淋循环,大幅减少空气造成的干扰。设备配置可选择的加热系统以及高灵敏度的探头,适合于检测高精密线路的器件,操作简便,测试准确。
SCS Ionograph SMD V提供的加热选项,可以让用户决定是否在测试过程中对测试液进行加热,根据IPC-TM-650的描述,加热可以促进离子污染物的溶出,尤其是那些不易溶解的助焊剂残渣以及一些暗藏角落,比如贴片元器件的底部的污染物快速溶解。另外加热系统可以保持整个测试过程中测试液温度的恒定不变。
SCS Ionograph SMD V产品特点:
l 动态测试法测试,精度极高;
l 测试起始点溶液电阻率设定在350M-cm以上,灵敏度高;
l 采用浸没式循环喷淋设计,有效避免空气中可溶性气体对测试的影响;
l 软件可使用3种不同单位显示测试过程曲线,并可自动生成测试报告;
l 采用微量高精度流量计侦测流量,结果更加精密;
l 全集成电控系统,设备稳定性好,故障率极低;对维护要求极低;
l 树脂组容量大,可长时间连续工作,降低更换频率;
l 落地式机台万向轮支撑,方便移动;
l 测试槽有足够宽度,也适用于带器件及有一定体积的产品测试;
全不锈钢槽体,机体结构坚固耐久。
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美国SCS IONOGRAPH SMDV型离子污染测试仪
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