美国SCS Ionograph SMD V离子污染测试仪

SCS Ionograph离子污染测试系统

在业界内，SCS就意味着采用自动化的萃取液电阻（ROSE）测试系统。SCS Ionograph离子污染测试系统是利用动态萃取方法测量将基片浸入到超高纯测试溶液后电阻率的变化情况。电阻率的变化程度指明了污染水平的高低，这种污染通常是由于制造和电路板装配过程中的残留物造成的。

SCS提供一整套的容量和控制措施来满足任何实验室或制造商的需求。适用范围从实验室到生产工厂，众多环境下，满足快速而准确的离子污染测试要求的产品离子污染清洁度测试，SCS Ionograph 产品特点：

l 适用于检测元器件、SMT组装产品、封装载板、PCB裸板各类电子产品的离子污染物含量指标；

l 检测速度快、再生性好、精度高；

l 行业权威产品，无需进一步寻求第三方检测；

l 在封装与涂覆防护材料前迅速确认离子污染程度；

l 满足现有的行业标准，如ANSI/J-STD-001D和IPC-TM-650，以及MIL-STD-2000A，MIL-P-28809A等各行业标准。

SCS Ionograph SMD V

SCS Ionograph SMD V是放置在地面的柜式仪器，主要适用于尺寸较大的产品，仪器的循环系统在液面以下实现喷淋循环，大幅减少空气造成的干扰。设备配置可选择的加热系统以及高灵敏度的探头，适合于检测高精密线路的器件，操作简便，测试准确。

SCS Ionograph SMD V提供的加热选项，可以让用户决定是否在测试过程中对测试液进行加热，根据IPC-TM-650的描述，加热可以促进离子污染物的溶出，尤其是那些不易溶解的助焊剂残渣以及一些暗藏角落，比如贴片元器件的底部的污染物快速溶解。另外加热系统可以保持整个测试过程中测试液温度的恒定不变。

SCS Ionograph SMD V产品特点：

l 动态测试法测试，精度极高；

l 测试起始点溶液电阻率设定在350M-cm以上，灵敏度高；

l 采用浸没式循环喷淋设计，有效避免空气中可溶性气体对测试的影响；

l 软件可使用3种不同单位显示测试过程曲线，并可自动生成测试报告；

l 采用微量高精度流量计侦测流量，结果更加精密；

l 全集成电控系统，设备稳定性好，故障率极低；对维护要求极低；

l 树脂组容量大，可长时间连续工作，降低更换频率；

l 落地式机台万向轮支撑，方便移动；

l 测试槽有足够宽度，也适用于带器件及有一定体积的产品测试；

全不锈钢槽体，机体结构坚固耐久。

SCS Ionograph SMD V技术参数：